18650鋰電池卷繞步驟工藝要注(zhu)意的(de)問題(ti)

1、濕度控制≤1%RH目的

防止正負極(ji)片卷(juan)繞(rao)過程中(zhong)吸水(shui)，導致零電壓、自放電、循環性能差；

方法：計算露點值和溫(wen)度值得出溫(wen)濕度值；

2、粉塵控制≤100，000pc/ft3（檢測粒徑為0.5um）

目的：防止粉塵在卷繞(rao)時卷入極組(zu)導(dao)致電(dian)芯短路、過熱、起火(huo)、自(zi)放電(dian)等不(bu)良(liang)；

方法：使(shi)用粉塵(chen)測試儀；

3、裁切毛刺異常

工藝(yi)要(yao)求：極(ji)片(pian)≤8um；極(ji)耳毛(mao)刺≤12um；檢測方式：每(mei)班次每(mei)臺機首檢隨機抽(chou)取(qu)1PCS電芯(xin)解(jie)剖，按《毛(mao)刺檢測作業指導(dao)書》檢測正(zheng)、負極(ji)片(pian)前后(hou)端及正(zheng)、負極(ji)耳裁(cai)切毛(mao)刺。

不良影(ying)響：極(ji)(ji)片或極(ji)(ji)耳毛刺超出工(gong)藝(yi)要求(qiu)可能(neng)導致毛刺刺穿隔膜，使正負(fu)極(ji)(ji)短路，電芯出現過(guo)熱，嚴重時可能(neng)爆炸，存(cun)在嚴重安全隱患。

4、正負極片覆蓋差

工藝要求(qiu)：正、負極片對齊(qi)度0.75?.55mm

負極片與隔(ge)膜對齊度1?.5mm

檢測(ce)方(fang)式：換卷后抽檢連續3PCS電(dian)芯按《X-RAY作業指導書》檢測(ce)對齊度不良影響：1）正負極片對齊度超(chao)出工(gong)藝規格可能(neng)造(zao)成(cheng)負極片未(wei)包住正極片，在(zai)電(dian)芯充電(dian)過程中(zhong)，使正極脫出的鋰離(li)(li)子(zi)無法找到對應(ying)的石墨嵌入，造(zao)成(cheng)電(dian)芯中(zhong)有游(you)離(li)(li)的鋰離(li)(li)子(zi)在(zai)負極上(shang)堆積(ji)產生枝(zhi)晶，枝(zhi)晶刺穿隔膜造(zao)成(cheng)內部(bu)短路而產生安全隱患。

2）負(fu)(fu)極(ji)片(pian)與隔膜對齊(qi)度超出工藝標準可能使負(fu)(fu)極(ji)片(pian)受(shou)到擠壓變(bian)形(xing)，極(ji)片(pian)上的負(fu)(fu)極(ji)料部(bu)分(fen)脫落，在充電過程(cheng)中電芯(xin)膨脹(zhang)，粉料刺(ci)穿隔膜導致(zhi)正(zheng)負(fu)(fu)極(ji)內部(bu)短路而產生安全隱患(huan)；

5、卷繞方(fang)向極(ji)(ji)片覆(fu)蓋差(cha)（外層(ceng)負極(ji)(ji)超正極(ji)(ji)料長(chang)(chang)、內層(ceng)負極(ji)(ji)超正極(ji)(ji)料長(chang)(chang)）檢(jian)測(ce)(ce)方(fang)式(shi)：每2H每臺卷繞機抽檢(jian)3PCS電芯解剖，分(fen)別用目鏡和(he)直尺測(ce)(ce)量兩種(zhong)覆(fu)蓋差(cha)尺寸(cun)。

不(bu)良影(ying)響：可能(neng)造(zao)成負極(ji)(ji)片(pian)(pian)未包(bao)住正(zheng)極(ji)(ji)片(pian)(pian)，在電芯充電過(guo)程中，使正(zheng)極(ji)(ji)脫出的鋰(li)離子無法找到對(dui)應的石(shi)墨嵌入，造(zao)成電芯中有游離的鋰(li)離子在負極(ji)(ji)上堆積(ji)產生枝晶，枝晶刺(ci)穿(chuan)隔膜造(zao)成內部短路而產生安全隱(yin)患。

6、短路測試

參數設置（100V，25nF250V，

250uA）檢(jian)測方(fang)式：每班首檢(jian)時(shi)用短(duan)路樣品測試機臺；不良影響：自放電、發熱、爆炸(zha)等(deng)短(duan)路因素：裁切顆粒(li)、金(jin)屬粉(fen)塵、毛刺(ci)等(deng)造成隔膜破孔；

7、極耳粘箔及拉力

工藝要求(qiu)：拉力≥15N粘箔面積>2/3焊印

檢測(ce)方式(shi)：每2H抽檢1PCS電芯(xin)解剖測(ce)拉(la)力、看(kan)粘箔情(qing)況

不良影響：高內阻