有外媒報道，新近開發的電池管理系統技術，通過測量電池的電化學阻抗，可以有效評估堆疊式鋰離子電池組的殘余價值。

新(xin)電(dian)(dian)池(chi)管理系統(tong)技術利用(yong)交流電(dian)(dian)勵磁法，測量堆疊式模(mo)塊鋰離(li)子(zi)電(dian)(dian)池(chi)的(de)電(dian)(dian)化學阻(zu)抗，通過劣化診斷，并根據測量數據進行故障測評，來評估(gu)電(dian)(dian)池(chi)殘余價值(zhi)。這對鋰離(li)子(zi)電(dian)(dian)池(chi)的(de)回收再利用(yong)，實現(xian)可持續發展有重要作(zuo)用(yong)。

這項新電池技術具有以下特點：

1. 通過溫度校準技術，對操作設備的溫度變(bian)化做出(chu)反應(ying)。

鋰(li)離子電(dian)池(chi)(chi)的電(dian)化(hua)(hua)(hua)(hua)學(xue)阻抗(kang)對(dui)溫(wen)度(du)(du)變(bian)化(hua)(hua)(hua)(hua)非常敏感。因此(ci)，在實驗室中(zhong)使(shi)用專用測(ce)量(liang)儀器進行測(ce)量(liang)時，要將電(dian)池(chi)(chi)置(zhi)于恒溫(wen)室內，以保持恒溫(wen)。而對(dui)于運(yun)行過程中(zhong)的電(dian)池(chi)(chi)模塊，由(you)于環(huan)境溫(wen)度(du)(du)不斷變(bian)化(hua)(hua)(hua)(hua)，無(wu)法對(dui)其(qi)進行穩(wen)定的電(dian)化(hua)(hua)(hua)(hua)學(xue)阻抗(kang)測(ce)量(liang)。因此(ci)，日本立命館大學(xue)和松下(xia)公司開發了(le)一種溫(wen)度(du)(du)校(xiao)正技術，在電(dian)化(hua)(hua)(hua)(hua)學(xue)阻抗(kang)測(ce)量(liang)過程中(zhong)，測(ce)量(liang)鋰(li)離子電(dian)池(chi)(chi)的溫(wen)度(du)(du)，將阻抗(kang)溫(wen)度(du)(du)變(bian)化(hua)(hua)(hua)(hua)校(xiao)正至標準(zhun)溫(wen)度(du)(du)，并繪制在Cole-Cole圖上。這樣(yang)，即(ji)使(shi)隨著季節(jie)和時間交替，環(huan)境溫(wen)度(du)(du)發生變(bian)化(hua)(hua)(hua)(hua)，也(ye)可以根據Cole-Cole圖，將其(qi)校(xiao)正至數據庫中(zhong)的標準(zhun)溫(wen)度(du)(du)。

2. 通(tong)過BMIC技術，測(ce)量多電(dian)芯電(dian)池組(zu)的(de)電(dian)化學阻抗。

傳統(tong)BMIC可以(yi)測量由6到14個電(dian)(dian)芯(xin)堆(dui)疊而成(cheng)的鋰(li)離子電(dian)(dian)池(chi)組的電(dian)(dian)壓。在電(dian)(dian)池(chi)管理系統(tong)中，可通過(guo)多個BMIC，從(cong)更多串聯電(dian)(dian)池(chi)電(dian)(dian)芯(xin)（最高(gao)可達(da)200個）中獲取電(dian)(dian)壓數據，以(yi)監控電(dian)(dian)池(chi)運行狀(zhuang)態，并確保(bao)使用安(an)全。另外(wai)，還(huan)可以(yi)評估(gu)充(chong)電(dian)(dian)和健康(kang)狀(zhuang)態，計算(suan)剩余的續航(hang)里程(cheng)和時間。

除了(le)傳(chuan)統功能，新開發的(de)BMIC測(ce)(ce)(ce)試芯片(pian)(pian)還內置(zhi)電(dian)(dian)化(hua)學(xue)阻抗測(ce)(ce)(ce)量(liang)功能，利用交(jiao)流電(dian)(dian)勵磁(ci)法進行測(ce)(ce)(ce)量(liang)。電(dian)(dian)化(hua)學(xue)阻抗測(ce)(ce)(ce)量(liang)是通(tong)過15個完(wan)全并(bing)聯模擬/數字轉換器、0.1 Hz到5khz的(de)脈沖調制交(jiao)流電(dian)(dian)勵磁(ci)電(dian)(dian)路，以及(ji)內置(zhi)在BMIC中(zhong)的(de)復(fu)數電(dian)(dian)壓/復(fu)數電(dian)(dian)流轉換電(dian)(dian)路來實現(xian)的(de)。因此，BMIC芯片(pian)(pian)可以測(ce)(ce)(ce)量(liang)電(dian)(dian)池運行時的(de)電(dian)(dian)化(hua)學(xue)阻抗，而不需(xu)要對目(mu)前電(dian)(dian)池中(zhong)的(de)BMS配置(zhi)進行重大調整。

3. 進行電化(hua)學阻抗測(ce)量時，達到與標準儀(yi)器同等(deng)的測(ce)量精度。

通過測(ce)量用(yong)復數阻抗繪制的(de)(de)Cole-Cole圖(tu)，利用(yong)電(dian)化學(xue)阻抗譜進行狀態(tai)評估。立命(ming)館(guan)大學(xue)使用(yong)松下(xia)公司開發(fa)的(de)(de)BMIC和測(ce)量軟件，對圓柱形鋰(li)離子電(dian)池進行了測(ce)量。結果(guo)表明，Cole-Cole圖(tu)可以(yi)在1 Hz到(dao)5 KHz的(de)(de)頻率范圍內測(ce)量繪制，并達到(dao)與(yu)工業用(yong)標(biao)準(zhun)測(ce)量儀器相同的(de)(de)精度(du)。